Back to Search

Powloka wytworzona przez elektrolityczne utlenianie plazmowe na aluminium

AUTHOR Berger Moura, Gustavo
PUBLISHER Wydawnictwo Nasza Wiedza (02/03/2025)
PRODUCT TYPE Paperback (Paperback)

Description
W niniejszej pracy zastosowano utlenianie elektrolityczne wspomagane plazm? (PEO) do wytworzenia powloki ceramicznej na powierzchni podlo?y ze stopu aluminium (AA 5052). Wla?ciwo?ci elektryczne tej powloki analizowano za pomoc? spektroskopii impedancji elektrycznej (EIE). Grubo?ci powlok zostaly okre?lone przy u?yciu metody pr?dów wirowych i skaningowej mikroskopii elektronowej (SEM). SEM wykorzystano równie? do oceny topografii powlok. Spektroskopia absorpcyjna w podczerwieni (IRS) i spektroskopia rentgenowska z dyspersj? energii (EDS) zostaly wykorzystane do okre?lenia struktury i skladu chemicznego. Struktury krystaliczne zostaly okre?lone przy u?yciu techniki dyfrakcji rentgenowskiej. Wyniki ujawnily, ?e powierzchnie zostaly pokryte zlo?on? powlok?, zawieraj?c? glównie aluminium, tlen i krzem, co zwi?kszylo rezystywno?c elektryczn? 10 000 000 000 razy w porównaniu z aluminium w stanie surowym.
Show More
Product Format
Product Details
ISBN-13: 9786208624170
ISBN-10: 6208624177
Binding: Paperback or Softback (Trade Paperback (Us))
Content Language: Polish
More Product Details
Page Count: 52
Carton Quantity: 136
Product Dimensions: 6.00 x 0.12 x 9.00 inches
Weight: 0.18 pound(s)
Country of Origin: US
Subject Information
BISAC Categories
Technology & Engineering | General
Descriptions, Reviews, Etc.
publisher marketing
W niniejszej pracy zastosowano utlenianie elektrolityczne wspomagane plazm? (PEO) do wytworzenia powloki ceramicznej na powierzchni podlo?y ze stopu aluminium (AA 5052). Wla?ciwo?ci elektryczne tej powloki analizowano za pomoc? spektroskopii impedancji elektrycznej (EIE). Grubo?ci powlok zostaly okre?lone przy u?yciu metody pr?dów wirowych i skaningowej mikroskopii elektronowej (SEM). SEM wykorzystano równie? do oceny topografii powlok. Spektroskopia absorpcyjna w podczerwieni (IRS) i spektroskopia rentgenowska z dyspersj? energii (EDS) zostaly wykorzystane do okre?lenia struktury i skladu chemicznego. Struktury krystaliczne zostaly okre?lone przy u?yciu techniki dyfrakcji rentgenowskiej. Wyniki ujawnily, ?e powierzchnie zostaly pokryte zlo?on? powlok?, zawieraj?c? glównie aluminium, tlen i krzem, co zwi?kszylo rezystywno?c elektryczn? 10 000 000 000 razy w porównaniu z aluminium w stanie surowym.
Show More
List Price $37.00
Your Price  $36.63
Paperback