La pr sence de syst mes embarqu s faisant appel l' lectronique s'est intensifi e aussi bien dans les domaines civils et militaires. De plus, l'augmentation des fr quences d'horloges et des densit s d'int gration s'accompagne d'une baisse des marges d'immunit au bruit, ce qui accro t la sensibilit des circuits aux parasites lectromagn tiques externes. En parall le, le nombre de perturbateurs potentiels ne cesse de cro tre. Se pose alors le probl me de leur cohabitation avec les syst mes. Le contexte de cette tude nous am ne analyser l'influence du couplage d'une perturbation de type intentionnel (AGREMI) sur les syst mes lectroniques. A l' chelle des cartes lectroniques, les premiers l ments qui vont interagir avec ce signal sont les l ments de protection. Les travaux r alis s ont consist d velopper une m thodologie analytique et exp rimentale permettant d' valuer le comportement en r gime transitoire des protections pr sentes dans les circuits lectroniques. La fiabilit de la m thodologie a t valu e sur des protections discr tes ("Off-Chip") et sur des tages de protections ("On-Chip") des circuits int gr s num riques.