La prediccion y la medicion de diferentes propiedades fisicas de materiales metalicos de dimensiones nanometricas fueron estudiados mediante el desarrollo e implementacion de un modelo analitico.Para ello, se disenaron e implementaron diferentes sistemas experimentales con el objetivo de verificar las propiedades fisicas predichas con el modelo analitico. Un sistema para medir la resistividad electrica en muestras metalicas con geometra de pelicula delgada fue desarrollado, teniendo como fundamento la ley de Ohm. Un modelo termodinamico desarrollado para sistemas de bimateriales, pelicula metalica/substrato de vidrio y Silicio, tanto en estado estacionario como estado transitorio, permite estudiar el coeficiente de conveccion, el coeficiente de expansion termica y la capacidad calorifica de las peliculas nanometricas. Un metodo para correlacionar las propiedades mecanicas, morfologicas y electricas fue desarrollado para sistemas bimateriales pelicula metalica/substrato polimericos.