Metrología Dimensional Aplicada a Superficies Activas en Telescopios: Alineación de la Superficie Reflectora Primaria del Gran Telescopio Milimétrico
| AUTHOR | Snchez Medel, Nohem; Sanchez Medel, Nohemi |
| PUBLISHER | Grin Verlag (06/07/2018) |
| PRODUCT TYPE | Paperback (Paperback) |
Description
Informe T cnico del a o 2017 en eltema Ingenier a - Ingenier a inform tica, Idioma: Espa ol, Resumen: El prop sito principal de esta memoria es evidenciar la experiencia profesional obtenida en el transcurso de 9 a os colaborando como T cnico Metr logo en el Instituto Nacional de Astrof sica ptica y Electr nica (INAOE). El objetivo principal de la colaboraci n con el INAOE fue la alineaci n de la superficie reflectora primaria del Gran Telescopio Milim trico "Alfonso Serrano" (GTM), mediante una m quina de medici n por coordenadas (MMC).
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Product Format
Product Details
ISBN-13:
9783668715059
ISBN-10:
366871505X
Binding:
Paperback or Softback (Trade Paperback (Us))
Content Language:
Spanish
More Product Details
Page Count:
76
Carton Quantity:
92
Product Dimensions:
5.83 x 0.18 x 8.27 inches
Weight:
0.24 pound(s)
Country of Origin:
US
Subject Information
BISAC Categories
Technology & Engineering | General
Technology & Engineering | Programming - General
Descriptions, Reviews, Etc.
publisher marketing
Informe T cnico del a o 2017 en eltema Ingenier a - Ingenier a inform tica, Idioma: Espa ol, Resumen: El prop sito principal de esta memoria es evidenciar la experiencia profesional obtenida en el transcurso de 9 a os colaborando como T cnico Metr logo en el Instituto Nacional de Astrof sica ptica y Electr nica (INAOE). El objetivo principal de la colaboraci n con el INAOE fue la alineaci n de la superficie reflectora primaria del Gran Telescopio Milim trico "Alfonso Serrano" (GTM), mediante una m quina de medici n por coordenadas (MMC).
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